отправить письмо на главную карта сайта библиотека

 

Последние новости

15.06.17.
Получено два патента - Способ получения Диоктилтерефталата...

15.06.16.
Выводим на рынок новый продукт - Сольвент Нефтехимический...

18.04.14.
Получен патент...

02.04.14.
Опубликована статья в журнале "Лакокрасочные материалы и их применение" №3 2014 г...

22.07.13.
Получена Госрегистрация на ДОТФ...

все новости





Галин Ф.З., Лакеев С.Н., Майданова И.О. Илиды серы в синтезе гетероциклических соединений

Лакеев С.Н., Майданова И.О., Ишалина О.В. - ОСНОВЫ ПРОИЗВОДСТВА ПЛАСТИФИКАТОРОВ



Дворкин В.И.

Метрология и обеспечение качества количественного химического анализа . - М.:Химия, 2001. - 263 с., ил

В монографии дано комплексное рассмотрение элементов общей теории измерений (основы общей метрологии), наиболее важных для метрологии методов статистической обработки данных и способов обеспечения качества химического анализа (химическая метрология). Особое внимание обращено на специфические особенности метрологии количественного химического анализа и способы обеспечения его качества "по конечному результату" - внутрилабораторный контроль и внешнюю оценку качества.

ISBN 5-7245-1185-1

Djvu, 3.63 Mb

Дворкин В.И. (djvu)