Порай-Кошиц М.А.
Основы структурного анализа химических соединений: Учеб. пособие. - 2-е изд., перераб. и доп. - М.:Высш. школа., 1989. - 192 с., ил
Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы "начальных фаз", наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактометров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным.
Предназначается для студентов химических специальностей университетов.
ISBN 5-06-000074-5
Djvu, 1.73 Mb
