отправить письмо на главную карта сайта библиотека

 

Последние новости

15.06.17.
Получено два патента - Способ получения Диоктилтерефталата...

15.06.16.
Выводим на рынок новый продукт - Сольвент Нефтехимический...

18.04.14.
Получен патент...

02.04.14.
Опубликована статья в журнале "Лакокрасочные материалы и их применение" №3 2014 г...

22.07.13.
Получена Госрегистрация на ДОТФ...

все новости





Галин Ф.З., Лакеев С.Н., Майданова И.О. Илиды серы в синтезе гетероциклических соединений

Лакеев С.Н., Майданова И.О., Ишалина О.В. - ОСНОВЫ ПРОИЗВОДСТВА ПЛАСТИФИКАТОРОВ



Порай-Кошиц М.А.

Основы структурного анализа химических соединений: Учеб. пособие. - 2-е изд., перераб. и доп. - М.:Высш. школа., 1989. - 192 с., ил

Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы "начальных фаз", наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактометров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным.
Предназначается для студентов химических специальностей университетов.

ISBN 5-06-000074-5

Djvu, 1.73 Mb

Порай-Кошиц М.А. (djvu)